LCD 표면 결함 분석 및 검사 애플리케이션

컴퓨터와 TV 모니터와 같은 오늘날의 전자 제품은 종종 LCD 화면을 디스플레이 장치로 사용합니다.

lcd LCD는 또한 오늘날 주류 디스플레이 장치가 되었습니다. 그러나 디스플레이는 생산 과정에서 환경적 영향으로 인해 여러 공정 및 품질 문제를 겪으며 제품 외관 결함 및 결함이 발생하는 경우가 많습니다. 현재 기존 업체에서는 특정 결함과 결함을 구별하기 위해 수동 검사를 하고 있는데, 수동 검사는 결함에 대한 주관적인 판단인 경우가 많고 검사 시간이 너무 길면 피로, 오검사, 검사 누락 등의 문제가 발생하게 됩니다. 작업 효율성 감소.

첫째, 백라이트 모듈의 생산 공정은 상대적으로 높으며 일반적으로 20% 이상에 도달할 수 있습니다.

둘째, 머신 비전 검사가 아직 널리 보급되지 않았기 때문에 많은 제조업체에서 여전히 수동 검사를 사용합니다. 수동 검사는 비용이 많이 들고 동시 교육이 필요합니다.

셋째, 수동 검사는 눈에 매우 손상을 주어 직원의 이동성이 높고 채용에 어려움이 있습니다. 넷째, 주관적인 요인으로 인해 수동검사의 안정성이 상대적으로 낮고, 일부 불량률은 높은 기분 변화와 높은 수준의 불만족으로 이어진다.

과학 기술의 발전으로 머신 비전 검사 기술은 점점 더 널리 사용되었습니다. 머신 비전 검사는 이미지를 검사 대상 및 신호 전송의 수단 또는 캐리어로 사용하여 이미지에서 유용한 정보를 추출하는 것입니다.